Die neuen CX.SWIR.XC Kameras von Baumer eignen sich für Inspektionsaufgaben im infraroten Spektralbereich. Dabei vermeidet das patentierte thermische Design der Kameras zahlreiche Defektpixel noch vor ihrer eigentlichen Entstehung. In Kombination mit der statischen und dynamischen Baumer Defektpixelkorrektur per Camera Firmware kommt die Bildqualität so siliziumbasierten Sensoren sehr nahe. Die neuen Kameras erfassen Wellenlängen im Bereich von 400 bis 1700 nm und können deshalb sowohl im sichtbaren als auch im nicht-sichtbaren Lichtspektrum eingesetzt werden.
Innovatives Design unterbindet Defektpixel
Technologiebedingt treten bei InGaAs-Sensoren, wie sie für moderne SWIR Kameras eingesetzt werden, deutlich mehr defekte Pixel auf als bei CMOS-Sensoren auf Siliziumbasis. Eine niedrige Temperatur am Bildsensor ist entscheidend, um die Anzahl der Defektpixel gering zu halten. Eine integrierte Kühlrippe leitet bei den SWIR Kameras entstehende Wärme nach außen ab. Optional kann ein ebenfalls in das Gehäuse integrierter, mit Druckluft oder Flüssigkeiten betriebener Kühlkanal genutzt werden. Die Kühlung von Objektiv und Sensor reduziert die Zahl der Defektpixel und beschleunigt zudem das thermische Einschwingen des Gesamtsystems. Die Kamera ist schneller einsatzbereit.
Hochpräzise Bilddaten für anspruchsvolle Applikationen
Anwendungsmöglichkeiten der Kameras bieten sich unter anderem in der Halbleiterindustrie, hier vor allem in der Wafer-Positionierung, für die hochpräzise Bilddaten und schnelle Durchlaufzeiten nötig sind. Weitere Bereiche, die von dieser Baumer Portfolioerweiterung um SWIR Kameras profitieren, sind Pharma- und Lebensmittelindustrie zur Füllstands- oder Fremdkörpererkennung
