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Weiterentwicklung des IIoT

Prozessfertigung
Weiterentwicklung des IIoT

Weiterentwicklung des IIoT
Das Condition Monitoring and Predictive Maintenance Testbed nutzt maschinelle Lernalgorithmen und -modelle. Bild: NI
National Instruments gibt die Zusammenarbeit mit Spark Cognition und IBM am Condition Monitoring and Predictive Maintenance Testbed bekannt. Da in vielen Industriebereichen, unter anderem bei Schwermaschinen, in der Stromerzeugung und in der Prozessfertigung, bessere Verfahren benötigt werden, um alternde Anlagen zu verwalten und die Lebensdauer zu verlängern, soll durch die Zusammenarbeit am Testbed ein Höchstmaß an Interoperabilität zwischen Betriebs- (Operational Technology) und Informationstechnik (Information Technology) sichergestellt werden.
Im neuen Zeitalter von Big Analog Data trägt maschinelles Lernen dazu bei, aus Daten aussagekräftige Informationen zu gewinnen. Aus den gesammelten Rohdaten lassen sich so wichtige Erkenntnisse ableiten, um Anlagen sowie den Betrieb und Prozesse zu optimieren. Die Technologie ermöglicht zudem Kosteneinsparungen und Wettbewerbsvorteile, da mithilfe der auf künstlicher Intelligenz basierenden Prognosen Komponentenausfälle im Vorfeld erkannt, nicht optimale Betriebsbedingungen identifiziert und Ursachenanalysen durchgeführt werden können.
Das Condition Monitoring and Predictive Maintenance Testbed basiert auf der offenen, softwarezentrierten Plattform von NI und schöpft die aktuellen Möglichkeiten im Bereich maschinelles Lernen aus. Anwender können mit den von Spark Cognition entwickelten kognitiven Analysefunktionen Ermüdungserscheinungen und Ausfälle bei kritischen Anlagen proaktiv verhindern, da sie wichtige Einblicke in den Zustand ihrer Anlagen sowie Lösungsvorschläge für potenzielle Probleme erhalten. Dies dient der Verbesserung der betrieblichen Effizienz sowie der Sicherheit und ermöglicht zugleich eine Senkung der Wartungskosten.
„Wir freuen uns sehr, mit unserer Plattform die nötige Datenerfassungsfunktionalität bereitzustellen, um die Spark-Cognition-Analysen für das IIoT zu unterstützen und voranzutreiben“, sagt Jamie Smith, Director of Embedded Systems bei NI. „In Kombination mit den bereits im Testbed vorhandenen Technologien eröffnet Spark Cognition neue Möglichkeiten, um den Prozess der Informationsgewinnung aus Sensordaten zu automatisieren.“ ik

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