Keyence hat das konfokale 3D-Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X in den deutschen Markt eingeführt. Das VK-X bietet eine Vielzahl an Funktionalitäten wie die bewährte konfokale Lochblendenoptik sowie eine Fokusvariation nach ISO 25178-6. Mit der kleinen Lochblende und durch die Verwendung eines Photomultipliers als Laser-Empfangselement mit hochempfindlicher 16-Bit-Erfassung kann das 3D-Laserscanning-Mikroskop Bilderfassungen und Messungen auf fast jeder Art von Material durchführen, da das Streulicht reduziert wird. Selbst Schichtdickenmessungen auf transparenten Folien und Beschichtungen wie auch kleinste Strukturen können nun dargestellt werden. Dabei sind Messungen über eine 50 mm-Messfläche mit einer Auflösung im Nanometerbereich sowie einer Vergrößerung von 42x bis 28800x möglich. Die Fokusvariationsmessungen nach ISO 25178-6 umfassen mehrere Aufnahmen, während sich das Objektiv in der Z-Achse auf und ab bewegt. Diese Bilder werden danach zur Erstellung einer 3D-Oberfläche entsprechend der Fokusposition verwendet. ik
Hannover Messe: Halle 6, Stand K06
Messe Control: Halle 8, Stand 202